看了AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
采用電冷技術;無需液氮！
圖1. XR-100型硅漂移探測器及配套電源PX5
圖2. 硅漂移探頭元件示意圖
XR-100SDD系列產品由新型高性能X射線硅漂移探頭，前置放大器（前放）和致冷系統組成。采用熱電致冷技術保持硅漂移探頭(SDD)的低溫工作環境，而在兩級熱電致冷器上亦安裝了輸入場效應管(FET)和新型溫度反饋控制電路，這樣探頭組件的溫度保持在約零下55攝氏度左右，并通過組件上的溫度傳感器顯示實時溫度。探頭采用TO-8封裝，并利用不透光和不透氣（真空封裝適用）的薄鈹(Be)窗以實現封裝后的軟X射線探測。
XR-100SDD系列產品無需采用昂貴的低溫制冷系統即可獲得非常優越的性能，它標志著X射線探測器生產技術上的一個突破。
產品特性：
1. 高計數率：500，000 CPS(每秒計數， counts per second)；
2. 能量分辨率：125eV（半高全寬，FWHM，對應峰值為5.9keV的情況）；
3. 高峰本比：20，000:1“(ratio of counts from 5.9 keV to 1 keV) (typical)” ；
4. 面積25mm2，厚度500µm；
5. 內置多層準直器；
6. 不需要液氮制冷。
應用范圍：
1. X射線熒光分析；
2. 用于RoHS/WEEE標準檢測的X射線熒光譜儀；
3. OEM和其他專業應用；
4. 生產工藝流程反饋控制；
5. 高校和科研院所實驗室研究；
產品參數：
本產品可以適應于用戶不同應用時的參數需求。
I. 高能量分辨應用：
1. 超高能量分辨率：125eV（對應峰值為5.9keV的情況）；
2. 峰化時間(Peaking time)：11.2µs；
3. 計數率：100，000 CPS；
4. 峰本比：，20，000:1；
II. 快速峰化應用：
1. 能量分辨率：155eV（對應峰值為5.9keV的情況）；
2. 峰化時間(Peaking time)：0.8µs；
3. 計數率：500，000 CPS；
III. 手持設備應用：
1. 能量分辨率：150eV（對應峰值為5.9keV的情況）；
2. 峰化時間(Peaking time)：3.2µs；
3. 探測器探頭溫度保持在250K（-24oC）
4. 計數率：200，000 CPS；
圖3. Amptek硅漂移探測器(SDD)測得的55Fe能譜
XR-100SDD型硅漂移探測器（SDD）是Amptek公司出品的一款新型X射線探測器，它標志著X射線探測器生產工藝的變革。XR-100SDD因其體積小，性能優越且價格便宜等特點，是OEM手持式和臺式X射線熒光譜儀設備的理想選擇；而且它在保證優異的能量分辨的同時還能達到相當高的計數率，可以滿足各種參數需求；另外封裝采用和Amptek出品的其他探測器一樣的T0-8型外殼，方便用戶升級現有系統以及和其他Amptek產品配套。
硅漂移探測器工作原理和硅PIN(Si-PIN)光電二極管類似，但它利用單電極結構大大提升了性能。Amptek公司專門為X射線能譜測量應用優化了其所有硅漂移探測器產品。
同樣的探頭面積下，硅漂移探測器電容比傳統硅PIN探測器電容低很多，則所需成型時間變短，電子學噪聲也會大大降低。因此硅漂移探測器可以相同（較高）的計數率下得到比傳統探測器好的能量分辨率。另外為引導電子移動到相當小的低電容陽極上，探測器中的電極結構是特制的。
| 常規參數 | |
| 探頭類型 | 硅漂移探測器(SDD) |
| 探頭尺寸 | 25mm2 |
| 硅晶體厚度 | 500μm |
| 準直器 | 內置多層準直器(ML) |
| 能量分辨率(@55Fe， 5.9keV峰) | 125-140eV FWHM (11.2μs峰化時間) |
| 峰本比(Peak to Background) | 20，000:1 (5.9keV，1keV計數比)典型的 |
| 鈹(Be)窗厚度 | 0.5mil (12.5μm) |
| 電荷敏感型前置放大器 | Amptek定制可復位放大器 |
| 增益穩定性（溫飄） | <20ppm> oC (一般情況下) |
| 外殼尺寸 | 3 x 1.75 x 1.13 inch， 7.6 x 4.4 x 2.9 cm |
| 重量 | 4.4 ounces (125g) |
| 總功率 | <1W |
| 保修期 | 一年 |
| 產品壽命 | 五到十年，因具體應用而異 |
| 環境溫度 | 0~+50oC |
| 倉儲和物流要求 | 長時間倉儲：干燥條件下存放十年以上 倉儲/物流需求：-20到+50 oC，10%到90%濕度（無冷凝器） |
| TUV Certification Certificate #: CU 72072412 02 Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05 CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004 | |
| 輸出參數 | |
| 前置放大器電源 | 電壓正負8到9V，電流15mA，噪聲峰峰值小于50mV |
| 探頭電源 | 電壓-90到-150V，電流25μA； 輸入需要非常穩定：<0.1%的波動。 |
| 制冷器電源 | **電壓3.5V，**電流350mA，噪聲峰峰值小于100mV； 注意：XR-100SDD探測器自身包含溫度控制器 |
| 輸出參數 | |
| 前置放大器靈敏度 | 一般為1mV/keV（不同探測器可能略有不同） |
| 前置放大器極性 | 正脈沖信號輸出（**負載為1k歐姆） |
| 前端放大器反饋 | 復位 |
| 溫度顯示靈敏度 | 利用PX5/X-123等直接讀取溫度（單位：開爾文） |
| 可選配置或配件 | |
| X-123SDD | 硅漂移探測器（SDD）也有對應的X-123SDD譜儀配置。該集成化配置包含了X射線探頭，前置放大器，DP5數字脈沖處理和多道分析模塊，以及PC5電源模塊。而用戶僅需提供+5V的直流輸入和到您的電腦的USB/RS232/以太網連接。 包含硅漂移探測器的X-123SDD譜儀產品 |
| 真空配件 | 和所有Amptek真空配件兼容 |
| OEM | 和所有Amptek OEM配件兼容 |
注意事項：
1. 硅漂移探測器需要負高壓，而前放輸出為正脈沖。
這和標準Si-PIN探測器所要求的正高壓，而前方輸出為負脈沖正好相反；
2. PX5電源模塊可以輸出正或負的高壓。若您為XR100SDD配套訂購了PX5模塊，則PX5必須設置為負高壓輸出。
在使用XR-100CR探測器時，因錯誤設定PX5為負高壓輸出導致的探測器損壞不在保修范圍之內。
而使用XR-100SDD探測器時，因設定PX5為正高壓輸出導致的探測器損壞亦不在保修范圍之內。
準直器的使用
為提高能譜測量的質量，絕大部分Amptek生產的探測器都帶有內部準直器。
探測器有效面元(active volume)邊緣部分和X射線的相互作用會因不完全電荷收集產生一些小脈沖信號，進而影響測得的能譜數據。而且這些信號可能正處在用戶所關心的元素所在的能量范圍，降低了信噪比。而內部準直器則可以限制X射線只能打到有效面元內，這就避免了噪聲信號的產生。
不同類型的探測器中準直器的應用各有優點：提高峰本比（P/B）；消除邊界效應；消除假尖峰信號。
XR-100SDD型產品可以工作在10-8托的真空環境到大氣壓下工作，而真空環境應用有如下兩種方案：
1) XR-100SDD的探頭和前放均置于真空室內部：
a. 為保證XR-100SDD的正常工作，需避免器件過熱，并做好輸入的1W功率的良好導熱；即利用XR-100SDD封裝上的四個安裝孔，根據具體真空室位形設計散熱，將器件熱量傳導到真空室壁上；
b. 在CF（Conflat Flange）刀口法蘭上利用可選的真空饋通端子（如9DVF型，九接口）連接XR-100SDD和真空室外的PX5電源。
2) XR-100SDD全部置于真空室外：需利用可選的真空探測器延長組件（如EXV9型加長管，長9英寸）和標準CF刀口法蘭窗口（通過O圈密封）配套。
圖4. 真空條件使用中可選的延長組件
圖5. 高采樣率X射線束線系統中Amptek高性能SDD的應用（定制法蘭，4個SDD探測器）
圖6. SDD的能量分辨率和峰化時間曲線
圖7. Si-PIN和SDD探測器的分辨率-峰化/成形時間曲線對比
圖8. 對應不同峰化時間的能量分辨率和輸入計數率曲線（SDD配套DP5使用）
該圖也表示了**輸出計數率曲線（黑色虛線）。而系統工作參數在該曲線右邊區域時，盡管輸入計數率很高，但輸出計數率仍會小于**值，具體情況見下圖9。
圖9. 不同峰化時間下SDD的輸入計數率和輸出計數率曲線（輸出效率）
由于SDD探測器具有更小的電容，在成型放大器中較短的成形時間即可保證較好的能量分辨率。通常使用9.6μs或更小的成形時間，這極大提高了系統的輸出效率。
圖10. 使用SDD得到的55Fe能譜
圖11. 不同峰化時間下SDD探測器的能量分辨率和對應能量峰值曲線
圖12. 綜合考慮鈹窗（及保護膜）的傳輸效率及和Si晶體的相互作用效率后不同能量的傳輸率曲線。
曲線的低能量部分由鈹窗厚度決定（0.3mil/8μm或0.5mil/12.5μm），而高能量部分則由Si晶體有效厚度決定：500μm。
傳輸效率文件：包含傳輸效率方面系數和常見問題解答的.zip格式文件，僅提供基本信息，不能作為定量分析依據。
SDD應用中的各種能譜圖
利用高性能硅漂移探測器（Super SDD）和Mini-X型X射線管測得的不同樣品的熒光能譜:
圖13. SS316型不銹鋼
圖14. PVC樣品（RoHS/WEEE標準）
圖15. CaCl2溶液（800ppm Ca， 1200 ppm Cl）
圖16. 含有少量KCl的原油（1100ppm）中的S元素
圖17. 汽車催化劑
圖18. 鉑金(Pt)戒指
完整的X射線熒光譜儀（XRF）系統
圖19. 安裝于MP1型平板上的XR100SDD探測器和Mini-X發生器
完整的XRF系統包括：
1. XR-100SDD型硅漂移探測器；
2. PX5型數字脈沖處理器，多道分析器及電源；
3. Mini-X型USB控制X射線管；
4. XRF-FP定量分析軟件；
5. MP1型XRF系統安裝平臺。
更多信息請關注AMPTEK英文官方網站：。
暫無數據！
AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD的工作原理介紹？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD的使用方法？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD多少錢一臺？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD使用的注意事項AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD的說明書有嗎？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD的操作規程有嗎？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD的報價含票含運費嗎？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD有現貨嗎？AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD包安裝嗎？
移動端
工商已核實
