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AMPTEK-超快型X射線/X光硅漂移探測器
AMPTEK-超快型X射線/X光硅漂移探測器

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美國

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AMPTEK INC.

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下一代硅漂移探測器 (Next Generation SDD)

超快型硅漂移探測器 (Super Fast SDD)

10倍通量 & 不損失任何分辨率

能量分辨率(FWHM,[eV])峰化時間(微秒)
1258
1351
1450.2

圖1. 能量分辨率和峰化時間曲線

圖2. 不同峰化時間條件下超快型硅漂移探測器的輸出計數率和輸入計數率的關系

圖3. 不同峰化時間條件下超快型硅漂移探測器的能量分辨率和輸入計數率的關系

圖4. 一秒鐘采集結果的定量分析1(樣品為316型不銹鋼-NIST 3155)

而以下表格則顯示了圖4中數據的定量分析結果。

元素合格濃度Super SDD僅需1秒
V0.050.16±0.28
Cr18.4518.32±0.80
Mn1.630.0±0.55
Fe64.5165.89±1.64
Co0.10.00±0.40
Ni12.1812.56±0.47
Cu0.170.19±0.02
Mo2.382.34±0.08

圖5. 1.2Mcps輸入計數率(ICR)情況下測量錳(Mn)樣品

圖6. 一秒鐘采集結果的定量分析2(樣品為焊錫)


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