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面議型號
Epsilon1品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無誤差率：
N/A分辨率：
N/A重現(xiàn)性：
N/A分散方式：
N/A測量時間：
3-5min測量范圍：
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Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術的新成果，是低成本小型臺式XRF儀器。
Epsilon 1 生成快速、具有成本效益、準確的數(shù)據(jù)，基本不需要操作員干預和樣品制備。 因此，與成本高昂、同時需要技能熟練的操作員操作的濕式化學方法和其他分析技術（如 AAS 和 ICP）相比，總體運行成本會下降很多。
Epsilon 1 是手持 xrf 分析儀或 xrf 槍的便攜式安全替代品。 請閱讀選擇我們的五大理由，了解為什么您應考慮 Epsilon 1 而不是其他手持設備。
Epsilon 1 可以使用與常規(guī)樣品成分相匹配的參考材料進行校準。 經(jīng)過專門的校準后，可以提供準確可靠的數(shù)據(jù)。 Epsilon 1 可針對各種工業(yè)設施進行校準。
Epsilon 1 是一款高性能的臺式 XRF 儀器，非常適合對周期表中從鈉到镅的主量、微量和痕量元素進行分析。
增強的數(shù)據(jù)安全性
Epsilon 系統(tǒng)軟件的增強的數(shù)據(jù)安全性選項可幫助您加強審計跟蹤，顯著降低誤差風險，并證明 XRF 儀器能夠按預期方式工作。 功能包括高級用戶管理、操作記錄和數(shù)據(jù)保護。
幾乎不需要進行樣品制備，即可直接在樣品上執(zhí)行測量。 由于 XRF 是一項無損技術，因此也可根據(jù)需要隨后采用其他分析技術測量樣品。
薄窗 Ag 陽極 X 射線光管，由馬爾文帕納科設計和制造，確保高質(zhì)量和高靈敏度。 50 kV X 射線光管和發(fā)生器非常適合激發(fā)重元素，可加快分析速度并提高準確性。
進行 USB 和網(wǎng)絡連接，以使用用于擴展使用、應用程序開發(fā)和固定的操作員的標準計算機外圍設備。
鈉、鎂、鋁、硅、磷和硫的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很敏感。 內(nèi)置溫度和氣壓傳感器可補償這些大氣變化，確保在各種氣候條件下結(jié)果不受影響。
為了保護系統(tǒng)核心部分免于溢漏，準備好保護膜。 發(fā)生溢漏時，操作員可以方便地更換保護膜。
礦業(yè)和礦產(chǎn)
? 對巖石、礦石和鉆芯進行直接定量分析
? 使用 FingerPrint 軟件快速識別陽性材料
? 無標分析，無需專門校準即可定量分析多種礦物質(zhì)
金屬
? 使用 Stratos（多）層分析解決方案對涂層進行簡單檢查
? 陽性材料鑒定套件，快速實現(xiàn)金屬分類和提供合格/不合格報告
? 礦碴的元素定量分析
? 快速篩查含鐵和非含鐵金屬
石化產(chǎn)品
? Epsilon 1 燃料含硫測量儀遵循 ASTM D4294、ISO 8754、20847、IP 336、496 和 JIS K2541-4 測試方法
? 即用型潤滑油測量儀符合 ASTM D6481 規(guī)定性能
? 一站式光譜儀服務，符合石油和燃料標準的認證
食品
? 快速定量分析食品和動物飼料產(chǎn)品中的營養(yǎng)素
? 縮短食品和動物飼料過程控制的反饋回路
? 可靠準確的奶粉定量分析
建筑材料
? 水泥、熟料和原材料的現(xiàn)場流程和質(zhì)量控制
? 使用無標分析篩選多種替代燃料和原材料 (AFR)
學術界
? 一臺儀器適合各類樣品，無需專門校準
? 安全的設計和較低的公用設施要求，是理想的教育工具
? 即用型學術界解決方案，通過使用 Omnian 無標分析進行預校準
制藥
? 對殘留物元素直接分析，加速流程開發(fā)
? 利用可用的“增強數(shù)據(jù)安全性”軟件，達到 FDA 21 CFR Part 11 的 要求
? 高效的原材料檢查，可快速識別供應變化
? 可選“安裝和操作鑒定”套件（IQ 和 OQ）
環(huán)保
? 現(xiàn)場識別受污染的土壤
? 對采樣器所在位置的空氣過濾器上的無機化合物進行分析
? 快速分析廢水
塑料和聚合物
? RoHS-3 分析依據(jù) ASTM F2617 要求
? Epsilon 1 具有小微區(qū)分析功能，可對非均質(zhì)樣品進行詳細直接的分析
? CRM 解決方案可用于分析聚乙烯中的添加劑、受限元素和有毒元素
暫無數(shù)據(jù)！
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學分析過程相對復雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
為了更好的服務于一直以來選擇并支持馬爾文帕納科分析技術的廣大用戶，除了上述客戶關懷季的巡檢活動，我們還將在4月奉上一系列服務日活動：四場分別針對激光粒度儀、納米粒度儀、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀用
近日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單，并成功在美國High Desert A
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對硅晶片的微觀形貌有直接影響，進而會影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性；此外，漿料的穩(wěn)定性也會影響晶片拋光過程，所以磨料的顆粒表征非常重要，本文介紹了利用動態(tài)光散射技
除了化學性之外，金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能，包括粉末的整體特性和單個金屬顆粒的特性。關鍵的整體特性是指堆積密度和流動性。堆積密度和流動性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響。本文將介紹顆粒粒
增材制造中如果金屬粉末成分不一致會造成哪些問題，為了杜絕這些問題我們要如何快速、準確地獲取金屬粉末的元素分析結(jié)果，以確保最終金屬粉末滿足增材制造的要求。本文將介紹元素分析在增材制造領域的重要性，并介紹
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