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面議型號
TriStarIIPlus3030品牌
Micromeritics產(chǎn)地
美國樣本
暫無誤差率：
0.0001分辨率：
/重現(xiàn)性：
優(yōu)于1%儀器原理：
靜態(tài)容量法分散方式：
/測量時間：
約40分鐘測量范圍：
比表面積不低于0.01 m2/g看了全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus的用戶又看了
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高性能多通道全自動比表面與孔隙度分析儀TriStar II Plus
TriStar II Plus系列比表面與孔徑分析儀硬件優(yōu)勢和軟件特點
l獨特的耐腐蝕不銹鋼歧管設(shè)計，可用于高精度的氣體管理
l長效杜瓦瓶設(shè)計，提供高達40h的連續(xù)溫度控制
l可選氪氣選配，用于極低的比表面測試
l直觀的MicroActive軟件使用戶能夠以交互方式分析等溫線數(shù)據(jù)，更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)
l用戶自定義報告選項允許直接建模
l強大的Python編程語言，允許用戶開發(fā)擴展TriStar II Plus系列軟件標準報告庫
l創(chuàng)新的儀器監(jiān)控界面實時顯示儀器性能指標和維護信息
l能夠在碳微孔分析中同時應(yīng)用CO2和N2吸附等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑分布
數(shù)據(jù)處理優(yōu)勢
lMicroActive交互式軟件，可直接處理吸附數(shù)據(jù)，用戶可通過簡單的移動計算條，可得到新的結(jié)構(gòu)信息。一鍵式訪問重要的參數(shù)，讓用戶專注于結(jié)果，而不是參數(shù)
l交互式數(shù)據(jù)處理模式，有效減少使用對話框和達到指定計算參數(shù)的路徑。用戶能準確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度
l可與壓汞數(shù)據(jù)進行疊加（25個）
l可通過圖形界面在BET，t-Plot，Langmuir，DFT等模型中選擇數(shù)據(jù)范圍
l報告編輯選項，允許用戶自定義多達五份報告，可在屏幕上預(yù)覽。每份報表都有總結(jié)、表格和圖形信息
強大的軟件功能，數(shù)據(jù)處理特性和儀器監(jiān)控功能
用于TriStar II Plus系列的MicroActive軟件
直觀的MicroActive軟件使用戶能夠以交互方式評估等溫線數(shù)據(jù)，并減少獲取表面積和孔隙度結(jié)果所需的時間，不需要生成報告便可查看結(jié)果。用戶可以很容易的產(chǎn)生并調(diào)整BET比表面積變換圖等計算結(jié)果；可方便快速的通過計算條選擇數(shù)據(jù)點，計算所得到的數(shù)據(jù)結(jié)果可及時更新，并可在計算窗口內(nèi)進一步細化使用的數(shù)據(jù)范圍。
氣體吸附數(shù)據(jù)和壓汞數(shù)據(jù)疊加功能
TriStar II Plus系列比表面與孔隙度分析儀的MicroActive軟件允許用戶將壓汞法得到的孔隙分布與氣體吸附等溫線得到的孔徑分布圖疊加。這種新的功能使得用戶在一個軟件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。
包含Python編程語言
TriStar II Plus系列比表面與孔隙度分析儀的軟件內(nèi)嵌Python編程語言。用戶可使用這種強大的腳本語言在儀器的應(yīng)用中擴展標準報告庫。
樣品制備設(shè)備
Micromeritics儀器樣品制備裝置可為比表面和孔隙度分析制備樣品。它使用流動氣體或者抽真空并加熱達到去除污染物的目的，例如樣品表面或者孔隙中的水蒸汽和吸附氣體。
比表面積和孔體積分析產(chǎn)生的數(shù)據(jù)質(zhì)量在很大程度上取決于樣品 表面的清潔度。Micromeritics儀器公司的樣品制備裝置可使用氦氣、氮氣、氬氣和其他非腐蝕性氣體。
更多信息，歡迎咨詢。
Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學(xué)活性和流動性的全球高性能設(shè)備生產(chǎn)商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術(shù)，包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學(xué)吸附、壓汞技術(shù)、粉末流變技術(shù)、催化劑活性檢測和粒徑測定。
公司在美國、英國和西班牙均設(shè)立了研發(fā)和生產(chǎn)基地，并在美洲、歐洲和亞洲設(shè)有直銷和服務(wù)業(yè)務(wù)。Micromeritics 的產(chǎn)品是全球具有創(chuàng)新力的知名企業(yè)、政府和學(xué)術(shù)機構(gòu)旗下 10,000 多個實驗室的優(yōu)選儀器。我們擁有專業(yè)的科學(xué)家隊伍和響應(yīng)迅速的支持團隊，他們能夠?qū)?Micromeritics 技術(shù)應(yīng)用于各種要求嚴苛的應(yīng)用中，助力客戶取得成功。
暫無數(shù)據(jù)！
使用氣體置換真密度分析儀和包膜密度分析儀測量固體制劑的關(guān)鍵參數(shù)。材料表征技術(shù)的全球業(yè)務(wù)企業(yè)麥克儀器公司（micromeritics）的兩款產(chǎn)品accupyc ii密度儀和geopyc包裹密度分析儀，為
2020-02-28
2023-03-29
FT4粉體流變儀_粉體流動性測試應(yīng)用于增材制造行業(yè) 麥克應(yīng)用筆記_FT4粉體流變儀_用于3D打印的聚合物 麥克應(yīng)用筆記_FT4粉體流變儀在增材制造中的應(yīng)用 Micromeritics 催化劑評價系統(tǒng) Micromeritics 穿透曲線吸附儀 Micromeritics FT4粉體流變儀 Micromeritics 鋰電解決方案 制藥工藝設(shè)計與控制 麥克粉末流動應(yīng)用—正負極材料的粉體特性對鋰電池生產(chǎn)工藝的影響 麥克粉末流動應(yīng)用—處方設(shè)計師對粉體表征的需求 
負載型金屬催化劑的金屬分散度是衡量金屬活性組分在載體表面分布狀態(tài)的重要參數(shù)，其定義是暴露在表面的金屬原子數(shù)占催化劑中總金屬原子數(shù)的百分比。高分散度意味著金屬以更小的顆粒或原子級分散存在，具有更高的原子
多孔生物質(zhì)衍生碳的孔道層級結(jié)構(gòu)對其內(nèi)部物質(zhì)擴散有著重要影響，利用物理吸附對復(fù)雜孔道的層級結(jié)構(gòu)進行分析是一種新穎的手段。日前，南京工業(yè)大學(xué)朱家華課題組在知名化學(xué)期刊 Chemistry of Mater
在之前的網(wǎng)絡(luò)研討會直播當中，來自麥克團隊的專家們分享了各類不同的應(yīng)用話題，而本期的直播，我們將迎來新朋友。各種多孔材料憑借其發(fā)達的孔道網(wǎng)絡(luò)被廣泛應(yīng)用于眾多領(lǐng)域中。絕大多數(shù)材料內(nèi)部均由復(fù)雜的交聯(lián)孔道組成
我們常說的低比表面積材料是指其比表面積小于 1 m2/g，甚至小于 0.1 m2/g 的材料，包括藥物、隔膜、聚合物、金屬粉末等，常見于制藥、新能源、半導(dǎo)體、冶金等領(lǐng)域。對于低比表面材料的 BET 比
硬碳目前是鈉電儲能電池的主要負極材料，在高溫下碳源（如纖維素）發(fā)生類石墨化過程，并進一步卷曲，相互搭建成紙牌屋結(jié)果，形成多個渦輪狀“閉孔”結(jié)構(gòu)。而這些“閉孔”結(jié)構(gòu)目前被認為是主要的儲鈉中心場所，和充放
超微孔是指孔徑小于1nm 的孔道或間隙，具有超微孔的材料可以是超微孔分子篩、超微孔碳材料、MOF 材料等。對于這些材料，傳統(tǒng)的比表面計算方法如 BET 方法不能用于超微孔孔道比表面的計算，并且一些基于
全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus的工作原理介紹？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus的使用方法？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus多少錢一臺？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus使用的注意事項全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus的說明書有嗎？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus的操作規(guī)程有嗎？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus的報價含票含運費嗎？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus有現(xiàn)貨嗎？全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus包安裝嗎？
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