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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)

飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)
  • 品牌:飛納
  • 產(chǎn)地:荷蘭
  • 關(guān)注度:8001
  • 型號(hào):ParticleMetric
  • 報(bào)價(jià):面議
  • 信息完整度:
核心參數(shù)
    產(chǎn)品介紹

    飛納掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) Phenom Particle Metric

                                             —— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具


    使用基于飛納臺(tái)式掃描電鏡(Phenom SEM)的 ParticleMetric 顆粒測(cè)試工具,以*快、*簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的 Phenom 飛納掃描電鏡,加上 Particle Metric 顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。


    基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據(jù)需要,隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸、短軸長(zhǎng)度(橢圓)、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù),*終實(shí)現(xiàn) ParticleMetric 加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。

    142422_505791_procont.jpeg  


    飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能


    1.可進(jìn)行以下顆粒分析

    • 顆粒尺寸范圍:100nm ~ 0.1mm

    • 顆粒探測(cè)速度:高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘

    • 顆粒測(cè)量屬性:大小、形狀、數(shù)量


    2.可以測(cè)量的顆粒參數(shù)

    • 面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比

    • 充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度(橢圓)

    • 凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?/span>


    3.可以提供的圖形顯示

    • 按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖

    • 任何指定參數(shù)的散點(diǎn)圖

    • 單個(gè)顆粒的 SEM 圖像


    4.可以提供的圖形輸出

    • Word 版本 docx 格式的報(bào)告,TIFF 格式的圖像

    • CSV 文件,離線分析的項(xiàng)目文件(.PAME)ProSuite 的一部分


    飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 工具的優(yōu)勢(shì)


    1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像,方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù);

    2. 全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng) ParticleMetric 軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺(jué)效果,為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù);

    3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性,生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成,以便揭示相關(guān)聯(lián)系和趨勢(shì);

    4. 直接由 Phenom 獲取圖像,識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來(lái)顆粒,關(guān)聯(lián)顆粒物的特征,比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度;

    5. 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化;

    6. 無(wú)限制的圖像采集,可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤,便于共享、交流或以后參考;

    7. Phenom 的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力,用戶可以將試樣**程度視覺(jué)化;

    8. 附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)


    飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域

    化妝品行業(yè);食品行業(yè);化工行業(yè);制藥行業(yè);陶瓷;顆粒以及表面涂層;顆粒狀添加劑;環(huán)境顆粒;濾器/篩網(wǎng)公司

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    工商信息

    企業(yè)名稱

    復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

    企業(yè)類型

    有限責(zé)任公司(自然人投資或控股)

    信用代碼

    91310115594714659N

    法人代表

    樊麗麗

    注冊(cè)地址

    上海市閔行區(qū)申濱路88號(hào)704單元

    成立日期

    2012-04-19

    注冊(cè)資本

    500萬(wàn)(元)

    有效期限

    2012-04-19 至 2042-04-18

    經(jīng)營(yíng)范圍

    一般項(xiàng)目:儀器儀表、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、電子產(chǎn)品及相關(guān)零配件的研發(fā)和銷售;從事儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)推廣、技術(shù)咨詢、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)交流;貨物進(jìn)出口;技術(shù)進(jìn)出口;信息咨詢服務(wù)(不含許可類信息咨詢服務(wù))。(除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外,憑營(yíng)業(yè)執(zhí)照依法自主開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng))
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    復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司,2012 年創(chuàng)立于上海,為高校,企業(yè)和研究所提供臺(tái)式掃描電子顯微鏡,及與臺(tái)式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測(cè)試服務(wù)。復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司成立以來(lái),一直專注顯微技術(shù),致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn),在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測(cè)試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納電鏡在中國(guó)已經(jīng)擁有超過(guò) 2000 名用戶。2017 年起,復(fù)納科技與荷蘭 Si

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