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【知識庫】納米粒度儀電位測量時如何解決氣泡難題?

【知識庫】納米粒度儀電位測量時如何解決氣泡難題?
馬爾文帕納科  2025-04-16  |  閱讀:683

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本文摘要

使用Zetasizer納米粒度電位儀進(jìn)行預(yù)制備樣品電位測量時,樣品中產(chǎn)生的氣泡會顯著影響測量結(jié)果。本文將通過實(shí)際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科專利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用,來保障預(yù)制備樣品電位結(jié)果的數(shù)據(jù)質(zhì)量和一致性。

 

01丨前言

  提到氣泡,可能會聯(lián)想到游戲和有趣,但在科學(xué)測量領(lǐng)域,它們往往帶來更多的是辛苦和麻煩。

  使用納米粒度電位儀進(jìn)行電位測量,通常情況下,當(dāng)樣品制備好后立即進(jìn)行電位測量時,氣泡很少會有影響。然而,當(dāng)我們分析大批量樣品,需要高通量的方法,使用一些自動進(jìn)樣的模塊,如Zetasizer的智能進(jìn)樣助手[1],需要提前制備樣品時,溶解在溶液中的氣體自然脫氣形成氣泡,帶來困擾。隨著時間的推移,氣泡形成的風(fēng)險增加。測量zeta 電位時,如果樣品中存在氣泡,會顯著影響測量結(jié)果。

 

  氣泡以多種不同的方式影響電位測量結(jié)果,具體取決于它們出現(xiàn)的位置。

  1.氣泡在毛細(xì)管樣品池中:這時會影響樣品在毛細(xì)管樣品池內(nèi)的流動。樣品流動性受影響,會改變用于電位計算的電動力學(xué)結(jié)果,導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)。

  2.樣品池的測量窗口存在氣泡:會影響樣品的散射光信號,這主要是用于計算電位的。這將造成數(shù)據(jù)質(zhì)量下降和電位結(jié)果不準(zhǔn)確。

  3.氣泡與樣品池電極接觸:可能會造成電導(dǎo)率的變化,從而增加測量誤差。

 

  在本文的應(yīng)用案例中,我們將展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科公司專利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用,來保障預(yù)制備樣品的電位結(jié)果的數(shù)據(jù)質(zhì)量和一致性。通過這個簡單、有效且高效的過程,在樣品前處理過程中去除氣泡,在您使用自動進(jìn)樣助手時,可將與氣泡相關(guān)的風(fēng)險降到最低。

 

02丨實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

  本實(shí)驗(yàn)旨在模擬使用智能進(jìn)樣助手時的樣品條件。樣品是Zeta電位標(biāo)準(zhǔn)品(貨號:ZTS1240)-由硼酸鹽緩沖液中的乳膠構(gòu)成。具體的樣品情況如下表1所示。采用擴(kuò)散屏障法[2]上樣,單獨(dú)對緩沖液進(jìn)行超聲處理,防止破壞或干擾樣品。

 1.png

1:觀察不同類型樣品中的氣泡形成

 

氣泡測量方法

  毛細(xì)管樣品池先用乙醇,再用水沖洗,這是標(biāo)準(zhǔn)的清潔程序。然后將表1中的樣品分別加入樣品池中。超聲處理的樣品,將硼酸鹽緩沖液置于超聲水浴中10分鐘,脫氣處理。

  樣品在室溫下靜置24小時,在0-10小時之間,每小時記錄每個樣品中的氣泡數(shù)量,并在第24小時進(jìn)行最后一次測量。

 

電位測量方法

 

用于電位測量的樣品包括:

  裝滿樣品池的ZT1240標(biāo)品

  擴(kuò)散屏障法上樣的超聲脫氣的緩沖液加ZTS1240標(biāo)品

  清洗毛細(xì)管樣品池,上樣后,在0時記錄電位值。靜置24小時,再記錄電位值和氣泡數(shù)量。


03丨結(jié)果與討論

  圖1顯示了樣品中存在氣泡時,電位結(jié)果的準(zhǔn)確性降低。放置24小時后的樣品(平均有21.5個氣泡)的電位結(jié)果分布比0時(平均0個氣泡)時大得多。

  測量結(jié)果跨度大,接近ZTS1240標(biāo)品的可接受測量范圍邊緣,說明了控制氣泡形成的必要性。

 2.png

1ZTS1240標(biāo)品在第0時和靜置24小時后的電位測量結(jié)果。

 

  在圖2中,我們展示了由于擴(kuò)散屏障的作用,24小時內(nèi)樣品中產(chǎn)生的氣泡數(shù)量顯著減少。對緩沖液進(jìn)行超聲脫氣進(jìn)一步減少了氣泡,驗(yàn)證了這是一種有效減少氣泡形成的方法。

 3.png

2:不同樣品在電位樣品池內(nèi),靜置24小時的過程中產(chǎn)生的氣泡數(shù)量

 

  圖3展示了緩沖液經(jīng)脫氣處理、采用擴(kuò)散屏障法的ZTS1240標(biāo)品的電位結(jié)果。結(jié)果顯示,由于有效抑制了氣泡在樣品中的形成,靜置24小時后樣品的電位值準(zhǔn)確性沒有降低。數(shù)據(jù)結(jié)果分布穩(wěn)定,所有測量值都在電位標(biāo)準(zhǔn)品的預(yù)期值范圍內(nèi)。

 4.png

3:緩沖液經(jīng)超聲脫氣、采用擴(kuò)散屏障法的ZTS1240在第0時和第24小時的電位測量結(jié)果,與未經(jīng)上述處理的ZTS1240靜置24小時后的電位值對比。

 5.jpg

Zetasizer 納米粒度電位儀

 

結(jié)論

  本次實(shí)驗(yàn)中我們展示了氣泡對電位測量結(jié)果的影響,以及如何通過對緩沖液的超聲脫氣和擴(kuò)散屏障法有效抑制氣泡的形成。

  如果您實(shí)驗(yàn)中需要處理大批量的樣品,使用了自動進(jìn)樣助手,需要預(yù)制備樣品,應(yīng)采用上述方法,以避免電位結(jié)果的準(zhǔn)確性受氣泡影響。

  本次實(shí)驗(yàn)中,我們使用了超聲處理來減少緩沖液中的溶解氣體,但同樣可以采用其他脫氣技術(shù),如真空脫氣或用惰性氣體沖洗。


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