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燒結溫度如何影響固態電池界面


來源:能源學人

[導讀]  燒結溫度如何影響固態電池界面?

中國粉體網訊


【研究背景】


匹配固態電解質(SE)的固態電池(SSB)有望滿足人們對安全、高功率和高容量儲能的需求,其中LLZO具有超高的離子電導率(10-4Scm-1)和對鋰金屬的高化學穩定性,被認為是最有前途的SE之一。實際上,LLZO在負極側能滿足SE的要求,但在正極側界面兼容性(SE|CAM)不足,目前主要通過在高溫下共燒結材料來實現。同時,共燒結過程存在有害相的形成,從而阻礙了鋰的擴散途徑,導致顆粒的電化學性能惡化,但目前仍未發表具有原子級分辨率的高質量LLZO|CAM界面研究。


【成果簡介】


鑒于此,德國馬爾堡菲利普斯大學KerstinVolz和吉森大學JürgenJanek研究了不同溫度下共燒結的(LLZO|NCM)復合正極,闡明了燒結溫度對材料完整性的影響。通過TEM、PED和EELS等手段對樣品分析表明,首次得到了LLZO|NCM界面的高分辨率透射電子顯微鏡圖像,在500℃的溫度下,形成類似LaNiO3的相,以及形成類似NiO巖鹽的相,嚴重影響了離子的傳輸,這也引發了在構建復合電極時是否應該使用具有未涂層NCM的思考。相關研究成果以“Influence of the sintering temperature on LLZO-NCM cathode composites for solid-state batteries studied by transmission electron microscopy”為題發表在Matter上。


【核心內容】


燒結溫度的影響


為了研究燒結溫度對復合物結構的影響,分析了三種不同的Li.6.25Al0.25La3Zr2O12和LiNi0.6Co0.2Mn0.2O2復合樣品,如圖1A-C所示的SEM圖像:1A為被等靜壓制而不燒結,1B和1C為在壓制成顆粒后分別在500℃和600℃下燒結。在微米尺度上,沒有發現樣品之間的差異。



圖1.LLZO|NCM復合顆粒的SEM圖像:(A)僅壓制成顆粒而不燒結的樣品,(B)壓制成顆粒后在500℃燒結的樣品,(C)壓制成顆粒后在600℃燒結的樣品。


如圖2A-2C顯示了三種不同LLZO-NCM復合材料中NCM次級粒子的PED相圖,層狀NCM與NiO的比例有一個明顯的趨勢,原始樣品幾乎完全由層狀NCM相組成(層狀NCM與NiO的比例為99:1),而在500℃下燒結的樣品僅表現出幾個NiO結構區域(比例為93:7),在600℃燒結的樣品中,比例為80:20。結果表明NiO結構的相變主要發生在初級顆粒的晶界處,在次級顆粒表面尤為突出,相變區域大約為幾十納米。如圖2D和2E為HRTEM測量結果,在圖2D中觀察到的晶格平面與分層NCM(003)平面相匹配,其晶面間距為4.7Å。圖2E中顯示的初級晶粒由由巖鹽狀結構組成,與NiO<110>方向、{111}晶面(d=2.4Å)以及{110}晶面(d=2.9Å)相匹配。圖2D和2E中插圖的傅里葉變換(FFT)進一步表明了對層狀相和巖鹽狀結構的評估。因此,NCM622在500℃至600℃下與LLZO共燒結時經歷向巖鹽狀相轉變,且相變主要但不完全發生在次級粒子的表面。



圖2.LLZO|NCM復合材料的PED相圖和相應的HRTEM圖像:(A-C)NCM二次晶粒的PED相圖來自(A)原始樣品,(B)在500℃下燒結的樣品,及(C)在600℃下燒結的樣品,(LLZO以綠色顯示,NCM以藍色顯示,NiO以黃色顯示)。(D)圖B中標記的區域的HRTEM圖像。(E)圖C中標記的區域的HRTEM圖像。


LLZO|NCM界面的觀察


為了研究LLZO和NCM之間的界面,以及在500℃溫度下燒結的樣品中兩種材料的接觸如何影響顆粒的結構完整性,如圖3所示對界面區域進行觀察。如圖3B為TEM照片,選擇了一個在LLZO和NCM晶粒之間直接接觸的界面區域進行分析。如圖3A為界面區域的局部HRTEM圖像,左側LLZO顆粒的晶面略微可見,右側NCM晶粒的晶面清晰可見。在LLZO和NCM之間的界面上,可以觀察到第三相的晶面。為了更清楚可見,對三個不同的階段進行了著色,并用白色虛線標記了階段的輪廓。此外,三個不同相的放大圖像以及接近分層NCM的過渡區域如圖3D所示。如圖3D3和3D4中放大的NCM顆粒中晶面間距為4.7Å,對應NCM(003)晶面,如圖3C所示,且晶帶軸為[100]或[-100]。在圖3D1中,LLZO晶面間距為1.8Å,推斷是{111}晶面,以<211>為方向。如圖3D2和3D3中淺藍色界面區域中的晶面間距為1.9Å,對應于NCM分層相的(003)生長方向和(0-14)的晶面間距(2.03Å),如圖3C。然而,觀察到的晶面顯然不是NCM的(0-14)晶面,因為在HRTEM圖像中具有不同的對比度,NCM中的(003)平面在[100]方向上可見(如圖3D4)。為了進一步觀察分析這些晶面,如圖3C所示,分層NCM的(003)晶面逐漸消失,成為LaNiO3的(111)晶面(藍色虛線),晶面間距為1.9Å與LaNiO3的(002)晶面相匹配。



圖3.LLZO|NCM界面的相變區域觀察:(A)圖B中標記LLZO|NCM界面區域的HRTEM圖像,(B)LLZO|NCM界面區域的TEM圖像。(C)NCM在層狀相中的晶體結構示意圖以及可能的相變結構,(D)圖A中區域的放大及對應的FFTs。


為了進一步尋找LaNiO3相形成的證據,進行了EELS測量。在圖4B顯示了在NCM(光譜1)和LLZO(光譜4)區域中氧K邊緣的EEL光譜,以及在NCM(光譜2)和LLZO(光譜3)表面直接接觸的位置的兩個光譜,如圖4A為在暗場(HAADF)下的STEM圖像。在NCM中的光譜由層狀相位組成,在527eV處的氧預峰和538eV處的氧主峰。氧預峰是氧化物的特征,很明顯在NCM的主體和表面記錄的光譜中,氧預峰的比例不同。光譜2中NCM表面的氧預峰較小,表明Ni的氧化態低于體相,NCM層狀相(Ni3+)部分轉變為巖鹽狀結構(Ni2+)。在LLZO中的O峰沒有表現出前邊緣結構,但光譜4和光譜3之間存在巨大差異。雖然光譜3靠近LLZO粒子,但它同時具有LLZO和NCM光譜的特征。這些結果可以通過LLZO和NCM之間的元素交換來解釋。



圖4.界面區域的EELS:(A)LLZO|NCM界面區域的HAADFSTEM圖像,(B)圖A中標定區域的EEL圖譜。


此外,沿著LLZO和NCM之間的界面觀察到元素的混合和NCM顆粒在表面的相變,而且還在NCM顆粒的大部分中發現了許多晶體缺陷。如圖5A中的HRTEM圖像顯示了NCM晶粒,在LLZO顆粒旁邊表現出許多晶格缺陷。與原始NCM晶粒相比,對圖5A中標記的區域采用傅里葉逆變換(如圖5B),位錯的數量密度變得更明顯。



圖5.晶格缺陷的觀察:(A)LLZO和NCM界面之間的HRTEM圖像,(B)圖A中標記區域的反FFT觀察缺陷數量。


【結論展望】


綜上,本文研究了共燒結溫度對LLZO-NCM復合材料完整性的影響,作者合成了三種不同的樣品,在納米尺度上檢測相關區域的組成變化,表明NCM初級晶粒經歷了原始層狀相到巖鹽狀結構。在500℃下燒結的NCM顆粒沒有顯示出大規模的相變,但在LLZO界面處使的分析揭示了晶粒內的大量晶格缺陷,尤其是邊緣位錯以及從層狀到LaNiO3的相變并形成巖鹽狀相。這種結構變化阻礙了鋰離子向整體的傳輸,最終導致倍率能力差和電極容量降低。進一步的EELS測量表明LLZO和NCM之間存在元素交換,突出了STEM觀察在獲得材料結構特性方面的重要性。最后建議加強研究穩定SE|CAM界面,如通過使用涂層,制造性能良好的全固態電池。


(中國粉體網編輯整理/文正)

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