XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀圖片
本圖片來自北京歐波同光學技術有限公司提供的XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀,型號為略的光譜檢測分析儀,產地為北京,屬于品牌,參考價格為面議,公司還可為用戶供應高品質的掃描電鏡磁場消磁儀、掃描電鏡原位拉伸臺-MICROTEST系列等產品。北京歐波同光學技術有限公司是中國粉體網的金牌會員,合作關系長達7年,工商信息已通過人工核驗,獲得粉享通誠信認證,請放心選擇!
查看 XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀 參數 >
同類推薦
看了XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀的用戶又看了
- 推薦專場
- 同類產品
- 該廠商產品
- 相關廠商
- 推薦品牌
- 最新產品
- 激光粒度儀
- 沉降式粒度儀
- 在線粒度儀
- 白度儀
- 密度儀
- 粘度計
- 篩分儀
- 粉末流動測試儀
- 粉體特性測試儀
- 比表面積測定儀
- 顆粒圖像測試儀
- 計量設備
- 納米粒度儀
- zeta電位儀
- 其他測試設備
- 元素分析儀
- 蒸汽吸附儀
- 化學吸附儀
- 色譜儀
- 壓汞儀
- 接觸角測量儀
- 高壓吸附儀
- 物理吸附儀
- 圖像粒度儀
- RAM785SP便攜式拉曼光譜儀
- ICP-7700型電感耦合等離子體發射光譜儀
- LC-AF7590型液相色譜-原子熒光聯用儀
- 東西分析AA-7090原子吸收分光光度計
- AA-7050原子吸收分光光度計
- AS-600火焰石墨爐一體自動進樣器
- AF-7550型雙道氫化物-原子熒光光度計
- 東儀光電DF-410全譜直讀光譜儀
- FS3000自動進樣器
- PS720稀釋器
- System5000石墨爐及自動進樣器
- 耶拿novAA 800 系列 原子吸收光譜
- 耶拿ZEEnit 系列 原子吸收光譜
- 耶拿電感耦合等離子體發射光譜
- GBC Cintra4040紫外-可見分光光度計
- GBC Cintra3030紫外-可見分光光度計
- GBC Cintra1010紫外-可見分光光度計
- WFX-810塞曼原子吸收分光光度計
- HG3000PII氫化物發生器
- SDS720自動進樣器
- 上海英生超快瞬態吸收光譜系統
- GBC Cintra2020紫外-可見分光光度計
- Quantima /Integra ICP
- KRUSS火焰光度計
- 氬離子研磨系統
- Murano 加熱臺
- Quattro-環境掃描場發射電鏡
- 賽默飛(原FEI)Prisma E SEM-環境掃描鎢燈絲電鏡
- Axia ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡
- 賽默飛(原FEI)Apreo 2 超高分辨場發射掃描電鏡
- 賽默飛(原FEI)Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡
- 賽默飛(原FEI)Helios 5 Laser PFIB TEM透射電鏡
- 賽默飛(原FEI)透射電鏡 Talos F200X S/TEM
- 賽默飛(原FEI)Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發射掃描/透射電子顯微鏡
- 賽默飛(原FEI)發射掃描/透射電子顯微鏡
- 賽默飛(原FEI)熱場(掃描)透射電子顯微鏡
- 賽默飛(原FEI)掃描/透射電子顯微鏡Talos L120C TEM
- 服務于錄井、測井的油氣勘探開發評價新技術——MaipSCAN
- ARL? QUANT'X EDXRF 光譜儀
- ARL? EQUINOX 3000 X 射線衍射儀
- 英國VacCoat 系列離子濺射儀臺式磁控濺射鍍膜機
- Scios 2 DualBeam FIB雙束電鏡
- Talos F200S G2 S/TEM
- Talos F200i S/TEM
- Talos F200C TEM
- 歐波同系列離子濺射儀
- 意力博通系列離子濺射
- MICROTEST 2000E系列原位動態拉伸試驗臺 ----用于EBSD的材料測試系統