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Zeta電位及納米粒度分析儀

技術參數：

粒度分析范圍: 0.3nm-10μm

重現性：誤差≤1%

濃度范圍：ppb-40%

檢測角度：180°

分析時間：30-120秒

準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度: 無需預選，依據實際測量結果，自動生成單峰/多峰分布結果

理論設計溫度：0-90℃，可以進行程序升溫或降溫

兼容性：兼容任何有機溶劑及大多數酸性或堿性溶液 

測量原理：

粒度測量：動態光背散射技術和全量程米氏理論處理分子量測量：水力直徑或德拜曲線技術：膜電極，微電場電勢測量，“Y"型光纖探針設計，異相多普勒頻移，可控參比方法，快速傅立葉轉換算法，非球形顆粒校正因子

光學系統：

3mW780nm半導體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路 

軟件系統：

先進的Microtrac FLEX軟件提供強大的數據處理能力，包括圖形，數據輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數據，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護，電子簽名和授權等。

外部環境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz環境要求：溫度，10-40°C相對濕度：小于95%

 配置：

有內置和外置光纖測量探頭可選

Zeta電位及納米粒度分析儀

主要特點：﹡采用的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法﹡的“Y"型光纖光路系統，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化。﹡的異相多譜勒頻移技術，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。﹡的可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。﹡的快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。﹡膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。﹡無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。