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晶圓缺陷檢測設(shè)備品牌
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設(shè)備針對化合物半導(dǎo)體晶圓外延片及襯底表面因制造過程中的產(chǎn)生的缺陷檢測。
兼容2-6英寸產(chǎn)品尺寸
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