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顯微“變角度”光譜系統

*小 0.5° 角分辨 / 透反射 + 熒光 / 低溫 + 磁場 + 1.7 μm 近紅外

ARM 角分辨光譜儀 采用焦平面 Fourier Transform **技術，基于顯微平臺，將角分辨光譜的“空間分辨率”提升至 μm 量級，**次實現了角度 (k) + 空間 (x) + 光譜 (ω) 的三重分辨。優化的集成設計，快速在透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜模式間切換。*終為您帶來一款“更全面”的光譜測試平臺。

微區角分辨光譜系統

典型應用領域：

Nano Photonics 隨著以光子晶體、SPP 材料、超材料為代表的微納光子材料的開發和應用，單純光譜分析技術已無法滿足完備表征該類光子材料光學性質的需求，更精細化的角分辨光譜技術應運而生。

微腔光子器件微腔光子器件受構型影響，光學性質具有角分布特征，需在不同角度下實現光譜探測。

超表面透鏡利用超表面技術（meta-surface）設計的超表面透鏡具有強大的光場調控能力，能夠實現亞波長的匯聚和微米級的聚焦，需要一種新型的基于顯微平臺的角分辨光譜探測手段。

ARM 角分辨光譜儀在以上領域的應用得益于如下幾個特點： 1 超過 60° 的角度 ARM 優選 Olympus 大 N.A. 平場復消色差物鏡，收集超過 60° 的角向輻射光譜；匹配智能算法，快速實現包括透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測量模式； 2 達 5 個維度的空間選擇 ARM 內置一個**設計的可調 Aperture，可以實現 X / Y 方向開口距離調節，XY 兩維平面位置平移，及平面內 θ 方向旋轉，準確抓取復雜形貌的微區樣品； 3 *小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊優化的消色差、消相差光路，能夠將角度分辨率提升至 0.5°，顯著提升光譜分析能力； 4 1.7μm 近紅外拓展 NEW 新一代**設計的 ARM 重新對角分辨光路系統進行構型，** 在近紅外波段 900~1700nm 實現角分辨光譜測量，對推動光通訊、超表面、激光雷達等領域研究具有重要價值； 5 低溫 + 磁場拓展新一代 ARM 也拓展了對低溫和磁場環境的支持，可適配*低 2.7K 低溫恒溫器和** 5T 磁場強度超導磁體； 6 除此之外，ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接，實現包括時間分辨、空間相干性、瞬態光譜采集等功能。