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ATR衰減全反射探頭

Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品。它能夠直接插入樣品中，不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應(yīng)用包括純墨水樣品、染色樣品和原油樣品的測量。另外，如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍寶石晶體的折射率，或大于1.7，ATR探頭可用作通用探頭。

ATR探頭被設(shè)計用于工業(yè)過程應(yīng)用，曾經(jīng)在10，000psig的環(huán)境下接受測試。ATR探頭可以在315C的溫度下工作。ATR探頭是個經(jīng)過三次反射的探頭，并且可以穿透被測量波長的衰逝波/倏逝波。

應(yīng)用場景

ATR(attenuated total reflection，衰減全反射)，

定義：入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密－疏媒質(zhì)的界上全反射時，光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場（見衰減波）量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元（SP）或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。

利用光學中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。

應(yīng)用：ATR在實際應(yīng)用中，作為紅外光譜法的重要實驗方法之一，從一開始便顯示出其獨特的優(yōu)勢和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號，而是通過樣品表面的反射信號獲得樣品表層有機成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡化了樣品的制作過程，而且極大地擴大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣，或者樣品制備過程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實驗成為可能。因此，被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。

詳細參數(shù)