誤差率：
·分辨率：
·重現性：
·儀器原理：
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Planum-3000平面光學元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學元件的反射、透射光譜，可進行多角度**反射率、相對反射率、透射率測量，偏振光測量，膜性測量，顏色測量等。
儀器特點：
自定義多角度透反射測量
測量對象：
棱鏡 平行平板、平晶
濾光片 紅外截止片
技術參數：
型號 | PLANUM-3000 |
|---|---|
探測器 | Hamamatsu背照式CCD陣列 |
檢測范圍 | 380-1100nm |
波長分辨率 | 1nm |
信噪比（全信號） | 1000：1 |
相對檢測誤差 | ＜0.2%（410-900nm） |
操作方式 | 自動 |
角度分辨率 | ＜0.0002° |
重復定位精度 | ＜0.005° |
旋轉**速度 | 25°/s |
透射測量角度 | 0-80°（小樣品0-50°） |
反射測量角度 | 5-80° |
單次測量時間量 | ＜1s |
S/P光測量 | 支持 |
樣品尺寸 | ＞Φ3mm |
操作系統/接口 | Windows7~Windows10/ USB2.0 |
電源/功率 | 220V-50HZ /100W |
其它 | 可自定義打印報表格式，開放式光學材料數據庫 |
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