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RETS series品牌
大塚電子產(chǎn)地
江蘇樣本
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產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
? 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
? 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
? 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
測量項(xiàng)目
? 封入cell gap
? twist角 *
? rubbing角 *
? pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *
? 空cell gap *
? 相位差（復(fù)折射相位差）的波長分散 *
? 光學(xué)軸 *
? 橢圓率/方位角 *
? 三次元折射率/Rth/β *
? 分光光譜/色度*
測量對象
? 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強(qiáng)感應(yīng)電）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
? 光學(xué)材料
- 其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）
仕 樣
型號 | RETS series |
|---|---|
樣品尺寸 | 20mm×20mm ～* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ～數(shù)10μm |
cell gap重復(fù)性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計(jì) |
測量波長范圍 | 400nm ～ 800nm |
光學(xué)系 | 偏光光學(xué)系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機(jī)構(gòu) | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
測量案例
相位差與液晶層間隙值
液晶面內(nèi)分布圖
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大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點(diǎn)介紹為主，定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會)。
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