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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。
利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。
JEM-2100F**設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。
SJEM-2100F可與TEM， MDS， EDS， EELS， and CCD-camera實現一體化控制。
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